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如何選擇合適的視覺系統光源

2023-11-29 14:47

理想的光源需要能夠使需要尋找的特征非常明顯,除了是相機能夠拍攝到目標物體外,好的光源應該能夠産生最大的對比度、亮度足夠且對物體的位置變化不敏感。如何選擇合適的光源呢?


1、背光——測量系統的最佳選擇。


2、亮場——最直接的照明。


3、暗場——適合光滑表面的照明。


4、結構光法——最簡便的三維測量。


5、彩色的考慮——三原色(光的三原色:紅、綠、藍;色彩三原色:青、紫、黃)。


機器視覺光源是影響機器視覺系統輸入的重要因素,它直接影響輸入圖像數據的質量和應用效果。穩定均勻的光源極其重要,使用光源的目的是將被測物與背景盡量明顯區分,使被測物與背景的對比度最大化。針對每個特定的應用實例,要選擇相應的照明裝置,以達到最佳效果。


機器視覺光源分類


1、環形光源


環形光源提供不同照射角度、不同顔色組合,更能突出物體的三維信息。多種緊湊設計,節省安裝空間。解決對角照射陰影問題,可選配漫射板導光,光線均勻擴散。應用領域:PCB基板檢測,IC元件檢測,塑膠容器檢測,集成電路印字檢查等。


2、背光源


用高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突出物體的外形輪廓特征,尤其適合作爲顯微鏡的載物台。應用領域:機械零件尺寸的測量,電子元件、膠片汙點檢測、透明物體劃痕檢測等。


3、條形光源


條形光源是較大方形結構被測物的首選光源。顔色可根據需求搭配,自由組合,照射角度與安裝隨意可調。應用領域:金屬表面檢查,圖像掃描,表面裂縫檢測,LCD面板檢測等。


4、同軸光源


同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少幹擾。部分采用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表面。應用領域:金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測,芯片和矽晶片的破損檢測,包裝條碼識別。


5、AOI專用光源


不同角度的三色光照明,照射凸顯焊錫三維信息。外加漫射板導光,減少反光,不同角度組合。應用領域:用于電路板焊錫檢測。


6、球積分光源


具有積分效果的半球面內壁,均勻反射從底部360度發射出的光線,使整個圖像的照度十分均勻。應用領域:合于曲面,表面凹凸,弧形表面檢測,或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測等。


7、線形光源


超高亮度,采用柱面透鏡聚光,適用于各種流水線連續檢測場合。應用領域:陣相機照明專用,AOI專用。


8、點光源


大功率LED,體積小,發光強度高,光纖鹵素燈的替代品。尤其適合作爲鏡頭的同軸光源等,高效散熱裝置,大大提高光源的使用壽命。應用領域:用于芯片檢測,晶片及液晶玻璃底基校正等。


9、組合條形光源


四邊配置條形光,每邊照明獨立可控,可根據被測物要求調整所需照明角度,適用性廣。應用案例:基板檢測,IC元件檢測,焊錫檢查,顯微鏡照明,包裝條碼照明,球形物體照明等。


10、對位光源


對位速度快,視場大;精度高。體積小,便于檢測集成,亮度高,可選配輔助環形光源。應用領域:電路板印刷機對位的專用光源。


爲了能夠突出特征點,將圖像特征突出顯示,在打光手法上,常用的包括有明視野與暗視野。


明視野:用直射光來観察對象物整體(散亂光呈黒色)。


暗視野:用散亂光來観察對象物整體(直射光呈白色)。


理想的光源需要能夠使需要尋找的特征非常明顯,除了是相機能夠拍攝到目標物體外,好的光源應該能夠産生最大的對比度、亮度足夠且對物體的位置變化不敏感。如何選擇合適的光源呢?


1、背光——測量系統的最佳選擇。


2、亮場——最直接的照明。


3、暗場——適合光滑表面的照明。


4、結構光法——最簡便的三維測量。


5、彩色的考慮——三原色(光的三原色:紅、綠、藍;色彩三原色:青、紫、黃)。


機器視覺光源是影響機器視覺系統輸入的重要因素,它直接影響輸入圖像數據的質量和應用效果。穩定均勻的光源極其重要,使用光源的目的是將被測物與背景盡量明顯區分,使被測物與背景的對比度最大化。針對每個特定的應用實例,要選擇相應的照明裝置,以達到最佳效果。


機器視覺光源分類


1、環形光源


環形光源提供不同照射角度、不同顔色組合,更能突出物體的三維信息。多種緊湊設計,節省安裝空間。解決對角照射陰影問題,可選配漫射板導光,光線均勻擴散。應用領域:PCB基板檢測,IC元件檢測,塑膠容器檢測,集成電路印字檢查等。


2、背光源


用高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突出物體的外形輪廓特征,尤其適合作爲顯微鏡的載物台。應用領域:機械零件尺寸的測量,電子元件、膠片汙點檢測、透明物體劃痕檢測等。


3、條形光源


條形光源是較大方形結構被測物的首選光源。顔色可根據需求搭配,自由組合,照射角度與安裝隨意可調。應用領域:金屬表面檢查,圖像掃描,表面裂縫檢測,LCD面板檢測等。


4、同軸光源


同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少幹擾。部分采用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表面。應用領域:金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測,芯片和矽晶片的破損檢測,包裝條碼識別。


5、AOI專用光源


不同角度的三色光照明,照射凸顯焊錫三維信息。外加漫射板導光,減少反光,不同角度組合。應用領域:用于電路板焊錫檢測。


6、球積分光源


具有積分效果的半球面內壁,均勻反射從底部360度發射出的光線,使整個圖像的照度十分均勻。應用領域:合于曲面,表面凹凸,弧形表面檢測,或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測等。


7、線形光源


超高亮度,采用柱面透鏡聚光,適用于各種流水線連續檢測場合。應用領域:陣相機照明專用,AOI專用。


8、點光源


大功率LED,體積小,發光強度高,光纖鹵素燈的替代品。尤其適合作爲鏡頭的同軸光源等,高效散熱裝置,大大提高光源的使用壽命。應用領域:用于芯片檢測,晶片及液晶玻璃底基校正等。


9、組合條形光源


四邊配置條形光,每邊照明獨立可控,可根據被測物要求調整所需照明角度,適用性廣。應用案例:基板檢測,IC元件檢測,焊錫檢查,顯微鏡照明,包裝條碼照明,球形物體照明等。


10、對位光源


對位速度快,視場大;精度高。體積小,便于檢測集成,亮度高,可選配輔助環形光源。應用領域:電路板印刷機對位的專用光源。


爲了能夠突出特征點,將圖像特征突出顯示,在打光手法上,常用的包括有明視野與暗視野。


明視野:用直射光來観察對象物整體(散亂光呈黒色)。


暗視野:用散亂光來観察對象物整體(直射光呈白色)。


理想的光源需要能夠使需要尋找的特征非常明顯,除了是相機能夠拍攝到目標物體外,好的光源應該能夠産生最大的對比度、亮度足夠且對物體的位置變化不敏感。如何選擇合適的光源呢?


1、背光——測量系統的最佳選擇。


2、亮場——最直接的照明。


3、暗場——適合光滑表面的照明。


4、結構光法——最簡便的三維測量。


5、彩色的考慮——三原色(光的三原色:紅、綠、藍;色彩三原色:青、紫、黃)。

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